电力通信片上系统并行模拟测试结构研究

doi:10.3969/j.issn.1000-0801.2010.12A.021

摘要/Abstract

摘要：

电力通信系统中广泛应用了数模混合片上系统SoC芯片。数模混合SoC高昂的测试成本成为制约其进一步应用的瓶颈。本文基于片上虚数字化的思想，提出了并行模拟结构设计，用数字ATE设备和测试访问机制完成对各个模拟芯核的并行测试。在此基础上，本文提出了两种与模拟测试外壳组（WCS）相适应的测试访问机制（TAM），并对两种TAM的构建方法和适用性进行了分析。本文对SHATI设计进行了版图级实现，验证了其对不同频率测试激励的适应性，实验证明，试用SHATI设计对于测试结构面积开销的优化在90%以上。

关键词: 电力通信, 数模混合片上系统, 测试成本, 测试访问机制

靳洋. 电力通信片上系统并行模拟测试结构研究[J]. 电信科学, 2010, 26(12A): 76-79.

图/表 6

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